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淺談清潔度顆粒分析顯微鏡的測量差異(一)
更新時(shí)間:2021-01-25 點(diǎn)擊次數(shù):2061

清潔度是指零部件表面,在生產(chǎn)和運(yùn)輸過程中附著的污染物異 物,污染物異物分為固體顆粒物和液態(tài)殘留物。固體顆粒物,因其尺寸、數(shù)量、硬度不同,對摩擦、機(jī)械、液壓、流體等系統(tǒng)產(chǎn)生功能性損 傷,嚴(yán)重情況下可導(dǎo)致產(chǎn)品直接報(bào)廢并危及人員生命安全。

顯微鏡顆粒計(jì)數(shù)法的檢測設(shè)備主體,是由:照相機(jī)、顯微鏡、自動 掃描臺、電腦、分析軟件組成的一臺顆粒計(jì)數(shù)顯微鏡(或稱清潔度自動分析顯微鏡系統(tǒng))。被測顆粒物被過濾到一張通常是直徑為47mm的濾膜上,自動掃描臺每次移動時(shí),顯微鏡視場下的濾膜都被拍攝,后由軟件拼接成整張濾膜圖像,通過閾值對比將顆粒從背景中識別出來,通過自動偏振機(jī)構(gòu)識別帶金屬反射的顆粒。

本文主要通過對一臺顆粒計(jì)數(shù)顯微鏡(清潔度自動分析顯微鏡)的分析,闡述采用不同顯微鏡、攝像機(jī)、軟件分析方法,導(dǎo)致的分析結(jié)果差異。

測量差異原因分析

1.設(shè)備自身是否準(zhǔn)確?

設(shè)備上的攝像系統(tǒng)與自動掃描臺的平面必須平行,且攝像系統(tǒng)的X Y軸也必須與自動掃描臺的XY軸運(yùn)行軌跡保持平行。這樣才能保證 圖形拼接時(shí)不出現(xiàn)錯(cuò)位現(xiàn)象。相比正常設(shè)備,檢測到的顆粒總數(shù)量大幅增加,小顆粒增加,大顆粒缺失。 通常,一臺顯微鏡在經(jīng)過長時(shí)間、高頻率使用之后,可能會出現(xiàn)以上情 況。例如:人員磕碰、搬運(yùn)、意外等。

2.像素分辨力差異。

每臺采用攝像系統(tǒng)拍攝并通過分析圖像得到測量結(jié)果的設(shè)備,都會因?yàn)?/span>攝像機(jī)設(shè)計(jì)原理而在邊緣產(chǎn)生單邊1個(gè)像素的不確定性。所以,在測量顆粒長度時(shí),會產(chǎn)生+/-2個(gè)像素的偏差。由此可得,像素越小、精度越 高、分析時(shí)間越久;像素尺寸越大,精度越低,分析時(shí)間越短。 因此,采用不同像素分辨力時(shí),測量結(jié)果會產(chǎn)生差異。

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